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产品名称：

全反射X荧光
产品型号： HORIZON
更新时间： 2023-12-19
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全反射X荧光分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角（接近于零度角）入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。
  • 详细内容
　　如果n1>n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1>α2，即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1<α临界时，界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中，这就是全反射现象。
 
　　HORIZON 配备了12位样品台自动测量，创新光学编码器的步进电机，角度测量，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。广泛应用在环境分析、制药分析、法医学、化学纯度分析、油品分析、染料分析、半导体材料及核材料工业分析领域。
 
　　全反射X荧光成人草莓视频APP主要特点
 
　　1、单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响；
 
　　2、对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析；
 
　　3、多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析；
 
　　4、不受样品的类型和不同应用需求影响；
 
　　5、液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小；
 
　　6、优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；
 
　　7、动态线性范围；
 
　　8、无需任何化学前处理，无记忆效应；
 
　　9、非破坏性分析，运行成本低廉。
 

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